BEGIN:VCALENDAR
PRODID:-//pointelectronic.de//NONSGML Website//EN
VERSION:2.0
CALSCALE:GREGORIAN
BEGIN:VEVENT
UID:01d96cd33ce60d4761bb259ee98b197f
DTSTAMP:20260819T224245Z
SUMMARY:Practical Aspects of Surface Roughness Measurements with Topographi
 c SEM
DESCRIPTION:In unserem Poster stellen wir das Rasterelektronenmikroskop (RE
 M) als eine effektive Methode zur Messung der Oberflächenrauheit vor\, mi
 t der Proben im Mikro- bis Nanometerbereich mit einer höheren lateralen A
 uflösung charakterisiert werden können als mit herkömmlichen optischen 
 Verfahren.\n\nWir veranschaulichen dies durch einen Vergleich der mit dem 
 REM gemessenen Rauheitswerte mit einem handelsüblichen Silizium-Rauheitss
 tandard\, wobei wir unser point electronic BSE-Topographiesystem und die M
 ountainsMap-Software für eine ISO 25178-konforme Analyse einsetzen.\n\nDr
 . Grigore Moldovan (CTO)\n\nPoster Session 1
URL:https://www.pointelectronic.de/de/unternehmen/veranstaltungen/imc21-202
 6/
DTSTART;TZID=Europe/London:20260831T173000
DTEND;TZID=Europe/London:20260831T183000
LOCATION:IMC21 2026\, Liverpool\, ACC Liverpool\, Poster Session 1
END:VEVENT
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:Europe/London
BEGIN:DAYLIGHT
DTSTART:20260831T173000
TZNAME:BST
TZOFFSETTO:+0100
TZOFFSETFROM:+0100
END:DAYLIGHT
END:VTIMEZONE
END:VCALENDAR