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SUMMARY:High Spatiotemporal STEM Using Beam Position Correction via Scan Sh
 aping
DESCRIPTION:Dieses Poster veranschaulicht\, wie durch „Scan Shaping“ ei
 ne Hochgeschwindigkeits-STEM-Bildgebung jenseits der herkömmlichen Coilbe
 schränkungen ermöglicht wird\, wobei 41 fps bei einer Auflösung von 512
 ×512 und einer Pixelverweildauer von 60 ns erreicht werden. Das Team des 
 Trinity College Dublin hat eine Methode des „Scan Shaping“ auf Basis e
 ines Serpentinen-Scans implementiert\, um eine Bildgebung mit hoher zeitli
 cher und räumlicher Auflösung zu erzielen. Das Poster behandelt zudem ne
 ue begrenzende Faktoren für die STEM-Scan-Geschwindigkeiten sowie Ansätz
 e zur weiteren Steigerung der Bildraten.
URL:https://www.pointelectronic.de/de/unternehmen/veranstaltungen/microscop
 y-and-microanalysis-2026/
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