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SUMMARY:From Knobs to Code: open scan control meets single electron countin
 g for data driven microscopy
DESCRIPTION:Dieses Vendor Tutorial richtet sich an Mikroskopiker und „Mak
 er“\, die über die Standard-Scanmodi hinaus zu programmierbaren\, daten
 gesteuerten Arbeitsabläufen übergehen möchten.\n\nVorkenntnisse im Umga
 ng mit STEM- oder SEM-Geräten werden vorausgesetzt\, spezifische Programm
 ierkenntnisse sind jedoch nicht erforderlich.\n\nDer Schwerpunkt liegt auf
  praktischen Konzepten\, neuesten Ergebnissen und Umsetzungsmöglichkeiten
 \, die die Teilnehmer auf ihre eigenen Geräte übertragen können.\n\nGem
 einsames Vendor Tutorial mit Lewys Jones\, turboTEM.\n\nMittwoch\, 17:45 U
 hr
URL:https://www.pointelectronic.de/de/unternehmen/veranstaltungen/microscop
 y-and-microanalysis-2026/
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