REM Upgrades
Komplette Elektronik- und Software-Upgrades für alle REM-Typen
REM Upgrade stattet Ihr bestehendes Elektronenmikroskop mit neuer, hochmoderner Elektronik und Software aus, einschließlich neuer Netzteile für Objektive und Scannerspulen, neue Steuerungen für Vakuum, Hochspannung und Tisch, neue Verstärker für Elektronendetektoren und ein neuer Scan-Generator für die Bilderfassung.
Jede Mikroskopkonfiguration und -installation wird auf jeden Kunden zugeschnitten.
Unsere Upgrades
- verlängern die Lebensdauer Ihrer zuverlässig arbeitenden elektronischen Säule
- erhöhen die Leistung dank modernster Elektronik und Software
- verbessern die Netzwerkkompatibilität
- ermöglichen neue Techniken in Ihrem REM
- integrieren bestehende wichtige Instrumente oder Arbeitsabläufe
- sparen Anschaffungs- und Servicekosten
Was ist enthalten?
Die Upgrade Kits bestehen aus Hardware, Software und wählbaren Optionen.
Die Vorteile im Detail:
Modernste Technologie
- Windows 11 mit Netzwerkkompatibilität
- Gleichzeitige Erfassung von mehreren Signalen und Detektoren
- Vollständig integrierte Automatisierungsfunktionen
- Hochwertige Hard-Panels für Bildaufnahme und Tischsteuerung
- schnellere Ergebnisse vom Einlegen der Probe bis zum fertigen Bild
Kostenreduzierung
- Verlängerte Lebensdauer
- Geringere Betriebskosten
- Reduzierte/keine Ausfallzeiten
- 10+ Jahre Ersatzteilunterstützung
- Beibehaltung bewährter Arbeitsabläufe
- Beibehaltung gewünschter Add-ons, Vermeidung von Zeit und Kosten für Neukonfigurationen
- Universelle GUI für alle aufgerüsteten Instrumente, unabhängig vom Hersteller
Nachhaltigkeit
- Umweltbewusst: Aufrüstung des vorhandenen Geräts, statt es zu verschrotten.
- Bis zu 3x geringerer Stromverbrauch
- Kürzere Reparaturzeiten und Fernwartung
- Vermeiden langwieriger Ausschreibungen und Kaufprozessen
Unterhaltskosten
Im Vergleich zum Kauf eines neuen Elektronenmikroskops spart unser SEM Upgrade kurz- und langfristig erheblich Kosten.
Neue Elektronik für das komplette SEM
- Neue Steuerung für die Gun-HV- und Elektronendetektoren
- Neue bipolare oder unipolare Hochspannungsversorgung
- Neues Scanmodul für Einzel- oder Doppelablenkspulen
- 12 digitale Eingangssignale (X-ray mapping)
- 19 Zoll, 10U Formfaktor Größe
- Standard USB 2.0 Schnittstelle
MICS-4 Signalverstärker
- Für die Erweiterung der Bildkanäle um 4x
- Kanalunabhängige Steuerung von Helligkeit und Kontrast
- Erweiterte Eingangsoffset- und Verstärkungssteuerung sowie Kalibrierung
- USB2 gesteuert und vollständig in die Mikroskopsteuerungssoftware integriert
Tischsteuerung
- Für automatische Positionierung und Drehung
- Integrierte Click-and-Move-, Rotations- und großflächige Kartenerfassung
- Konfigurierbare Software-Grenzwerte zur Kollisionsvermeidung
- USB2-gesteuert und vollständig in die Mikroskopsteuerungssoftware integriert
SEM Control Software
- Ansteuerung von Spulen und Detektoren
- Anzeige von Messwerten
- Laden und Speichern der REM-Parameter
- Automatikfunktionen für Fokus/Stigmator und Helligkeit/Kontrast
- TV Scan, Slow Scan, Mapping, Line Scan, Punktmessung
- Reduzierter Area Scan mit Zoomfunktion
- AVI-Funktion mit Zeitraffer
- Erstellbare, konfigurierbare Scan und Speichertasten
- Steuerung des Vakuumsystem mit Anzeige des Vakuumschemas
- Integrierte Probentischsteuerung - Erstellen, Laden und Speichern vom Stage-/ Probenpositionstabellen
- Signal Monitor mit live-Gradationskurven
- Anzeige und Einstellung der Probenraumkamera
- Integrierte Bildbearbeitung
- Live 3D Rekonstruktion mit 4Q RE Detektor (optional)
- AutoSEM zur automatisierten Aufnahme mehrerer Probestellen (optional)
Activity Monitor
- Für detaillierte Informationen und vorbeugende Wartung
- Automatische Erfassung und Aufzeichnung der Betriebsparameter des Mikroskops
- 16x 16-Bit-Analogsignaleingänge und Software-API für die Protokollierung von Ereignissen
- Live- und Offline-Viewer mit PDF-Ausgabe
- USB 2.0-gesteuert und integriert in die neue Mikroskop-Steuerungssoftware
Control Panels
- Für erhöhte Geschwindigkeit und Produktivität erfahrener Anwender
- SEM-Panel mit Vergrößerung, Fokus, Bildverschiebung, Helligkeit, Kontrast, Stigmatismus, etc.
- Tischpanel mit Trackball oder Joystick, XYRZ-Sperren und Speicher-/Aufruffunktionen
- USB2 gesteuert und vollständig in die Mikroskopsteuerungssoftware integriert
MICS 8 / 12 / 16 Signalverstärker
- Für die Erweiterung der Bildkanäle, um 8x, 12x oder 16x
- Kanalunabhängige Steuerung von Helligkeit und Kontrast
- Erweiterte Eingangsoffset- und Verstärkungssteuerung sowie Kalibrierung
- USB2 gesteuert und vollständig in die Mikroskopsteuerungssoftware integriert
EA Verstärker
- kalibrierte Hochgeschwindigkeitselektronik
- komplexe vielstufige Verstärkung mit automatischer Tiefpassfilterung
- integriertes Picoampermeter zur Strahlstrommessung
- integrierte Spannungsquelle zur elektrischen Vorspannung des Bauteils
- integrierte Stromquelle zur Kompensierung parasitärer Eingangsströme
EDS Detektor
- QUANTAX Compact System von Bruker, bestehend aus XFlash® 730M Silizium-Drift-Detektor (SDD), einem elektronischen Modul und der ESPRIT Compact Software
- Ermöglicht Linienabtastung und spektrale Elementzuordnung
- Qualitative und quantitative Materialanalysen
- Schnelle Analyse und Berichterstellung
HT BSE-Detektor
- 4Q segmentierte Elektroden mit eingebauter Vorspannung
- Elektroden sind lichtblind und mit Laserheizung kompatibel
- Bias-Spannung zum Abstoßen von Sekundärelektronen und thermischen Elektronen
- Elektroden können mit verschiedenen Materialien beschichtet werden
- leicht zu demontieren, zu reinigen und neu zu beschichten
Premium BSE-Detektor
- Schneller und hochsensitiver 4-Quadranten Si Sensor, für BSE-Signal optimiert
- In-situ Vorverstärker für optimale Effizienz und Geschwindigkeit
- Montage am Polschuh oder mit Retraktionsarm
microShape
- Software für die Visualisierung und Analyse von Topografiedaten
- Messung von Profillinien, Höhen, Abständen und Winkeln in 3D
- 3D Datenprozessierung mit Datenkorrektur und -überlagerung
microCal
- Software für die 3D Kalibrierung mit Reportfunktion
- Automatische Bestimmung der Maßstäbe und Scherungen in allen Raumrichtungen
- Statistische Auswertung und Analyse von nichtlinearen Geometrieabweichungen
Zusätzliche Optionen
Zusätzliche Add-ons und Software auf Anfrage.
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