STEM Counting
STEM Counting ist eine leistungsstarke Technik, die in den Bereichen Materialwissenschaft und Nanotechnologie weit verbreitet ist. Sie wird zur Charakterisierung von Nanopartikeln, zur Untersuchung von Kristallfehlern und zur Abbildung biologischer Proben auf atomarer Ebene eingesetzt.
Unser STEM Counting System ermöglicht, Bilder mit kalibrierten Einheiten einzelner Elektronen zu erzeugen, was ein echtes Nullhintergrundniveau und minimales Rauschen gewährleistet und somit die Präzision und Zuverlässigkeit der Messungen erhöht.
Das System besteht aus Hardware und Software.
TEM Scan Controller (DISS6)
- Integrierter Scan-Generator und Bilderfassung
- Große Pixelauflösung und hohe Abtastgeschwindigkeit
- Zweite digitale Verstärkungsstufe für EA
- Gleichzeitige BF-, HAADF- und EA-Eingänge
MICS-8 Verstärker
- Fügt einen analogen Mehrkanal-Signalverstärker hinzu
- Unabhängige Helligkeit und Kontrast für jedes Signal
- Erweiterte Eingangs- und Verstärkungsnormalisierung für 4Q
Pulse Digitalisierer
- Kompatibilität: Gresham, Kevex, Noran, Link, EDAX oder PGT
- Spektrumsgröße: 1.024, 2.048 und 4.096 Kanäle
- Durchsatzraten: 300 kcps/Kanal max.
STEM Detektor
- Multisegmentdetektor für STEM
- segmentierte Diode mit der Option auf bis zu 16 Segmente
- BF, ABF, ADF und HAADF fähig, alle in einer Ebene und auf demselben Detektor
- individuell festlegbare Segmentierungsgeometrie für maximale Anpassungsmöglichkeiten
DISS6 Software zur Detektorsteuerung und Bildaufnahme
- Steuerung von Detektor und Analogdiskriminator
- Konfiguration von Scans und Signalen
- Live-Quantifizierung von Pixelwerten
- Konfigurierbare Arbeitsabläufe
DIPS6 Bildverarbeitungs-Software
- Viewer für alle Bildsignale und Metadaten-Tags
- Auswahl von Pseudo-Farbprofilen
- Vollständige Quantifizierung der Pixelwerte
- Geschichtete Farbansicht der Signale