Wer sind die Partner der In-Situ Microscopy Alliance?
Um gemeinsam In-situ-Charakterisierungswerkzeuge, Lösungen und Dienstleistungen anzubieten, haben die Unternehmen Alemnis, Imina Technologies, NenoVision und point electronic die In-Situ Microscopy Alliance ins Leben gerufen. Verstärkt wird sie durch Prof. Dr. Marc-Georg Willinger, der sich auf in-situ Techniken spezialisiert hat.
Die Elektronenmikroskopie (EM) ist in verschiedenen Disziplinen der Forschung und Technik weit verbreitet. Seit ihren Anfängen hat die EM erstaunliche Fortschritte gemacht. Heutzutage sind die Anwender nicht mehr auf die Bildgebung und die damit verbundene Analyse beschränkt, sondern können weitere Techniken wie AFM, elektrische Abtastung, Probenmanipulation und Kraftsensorik hinzufügen. Als Anbieter führender Werkzeuge für die In-situ-Mikroskopie in Kombination mit der Elektronenmikroskopie haben wir beschlossen, eine Allianz zu gründen und unsere Technologien unter einem Dach zu vereinen.
Warum die In-Situ Microscopy Alliance?
Die In-situ Microscopy Alliance (IMA) wurde gegründet, um Know-how und Technologien für die In-situ-Mikroskopie und -Prüfung auszutauschen, die Innovation und Einführung neuer Techniken zu beschleunigen und neue Anwendungen in verschiedenen Disziplinen zu fördern.
Unsere Mission ist es, Industrie und Hochschulen zusammenzubringen, um die Werkzeuge, Lösungen und Dienstleistungen für die In-situ-Mikroskopie zu verbessern.
Als Allianz werden wir:
- ein Ökosystem schaffen, das es führenden Akteuren aus Industrie und Wissenschaft ermöglicht, In-situ-Charakterisierungstechniken, -Werkzeuge und -Anwendungen zu erforschen, zu entwickeln und zu fördern.
- die Forschungs- und Ingenieurgemeinschaft aufklären über die Möglichkeiten der In-situ-Charakterisierungstechniken.
- fortschrittliche Analysewerkzeuge und Anwendungen integrieren mit dem Ziel, eine umfassende In-situ-Charakterisierung anbieten zu können.
Wir sind sehr stolz darauf, einen führenden Forscher auf dem Gebiet der In-situ-Mikroskopie an Bord zu haben: Prof. Dr. Marc-Georg Willinger, der den Lehrstuhl für Elektronenmikroskopie an der Technischen Universität München innehat. Gemeinsam wollen wir die Allianz weiterentwickeln und auf die wichtigsten Bedürfnisse der Mikroskopieanwender eingehen.
Warum sind Sie Teil der In-situ Mikroscopy Alliance?
Die Erfassung des Gesamtbildes und die Kombination verschiedener Aspekte von der nm- bis zur mm-Skala ist eine anspruchsvolle und komplexe Aufgabe.
Die In-Situ Microscopy Alliance wurde von innovativen, technologieorientierten Unternehmen gegründet, die die Bedeutung der In-Situ-Mikroskopie verstehen und daran interessiert sind, Werkzeuge für unsere Bedürfnisse zu entwickeln. Ich wollte von Anfang an ein Teil dieser Entwicklung sein.
Warum glauben Sie, dass die In-situ-Analyse Fortschritte in bestimmten Bereichen ermöglichen wird?
Wir müssen funktionelle Materialien in ihrem funktionellen Zustand, d. h. unter anwendungsrelevanten Arbeitsbedingungen, untersuchen. Dies gilt insbesondere für die Entwicklung leistungsfähiger Materialien und Geräte, die für eine nachhaltige Zukunft benötigt werden, wie z. B. Katalysatoren und Batteriematerialien.
Alemnis AG
Alemnis entwickelt Instrumente für mechanische Tests im Mikro- und Nanobereich. Die Alemnis Standard Assembly (ASA) arbeitet mit echter Verschiebungskontrolle zusätzlich zum Standard-Lastkontrollmodus. Mit einer Reihe von Modulen für extrem hohe Dehnungsgeschwindigkeiten können Anwender mit Dehnungsgeschwindigkeiten von bis zu 20.000/s und Millionen von Schlagprüfzyklen testen.
Die Produkte sind kompakt und eignen sich ideal für In-situ-Experimente sowie für Ex-situ-Versuche als eigenständiger Aufbau. Das ASA kann in verschiedenen Mikroskopen wie Rasterelektronenmikroskopen (in-SEM), Lichtmikroskopen (in-Air), in Synchrotron-, Raman- und Röntgentomographen sowie in nuklearisierten Heißlaboren installiert und mit dem Nenovision LiteScope™ (für kombinierte in-situ AFM mit Nanoindentation) kombiniert werden.
Imina Technologies S.A.
Imina Technologies bietet hochpräzise Roboterlösungen zur Interaktion mit und Charakterisierung von Proben bis in den Nanometerbereich.
Basierend auf einer einzigartigen Bewegungstechnologie war es noch nie so einfach, Sonden mit den Robotern von Imina zu positionieren und stabile elektrische Kontakte zu erhalten. Die hohe Modularität unserer Lösungen bietet eine große Flexibilität für eine tiefe Integration in eine Vielzahl von Mikroskopie- und Testeinrichtungen und ermöglicht effiziente Messabläufe.
Nenovision
NenoVision entwickelt und fertigt LiteScope™, ein einzigartiges AFM zur Integration in SEMs. LiteScope ermöglicht eine multimodale und korrelative In-situ-Probenanalyse im Nanobereich.
Es ermöglicht die präzise Lokalisierung des gewünschten Bereichs zur Messung der mechanischen, elektrischen und magnetischen Eigenschaften von Proben im SEM. Die Kombination von AFM und SEM ist eine ideale Lösung für die Bereiche Batterieforschung, 2D-Materialien, Halbleiter, Stahl und Legierungen, Pulver und Partikel, Biowissenschaften, etc.
point electronic GmbH
Die point electronic GmbH ist ein unabhängiger Anbieter von Detektoren, Elektronik und Mikroskopsteuerungen für SEM, FIB, TEM und Mikroanalysatoren. Das Unternehmen vervollständigt seine Hardware mit maßgeschneiderter Software, einschließlich Offline-Software für die Datenverarbeitung.
point electronic ist Experte für Techniken wie Topographie, EBIC, EBAC/RCI oder STEBIC sowie für Mikroskopiegeräte - von Standardteilen bis hin zu Hochleistungs- und maßgeschneiderten Systemen. Zu den Entwicklungen des Unternehmens gehören verschiedene Modernisierungskits für bestehende SEMs und TEMs sowie Systeme für In-situ-Imaging.