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Es wurden 18 Ergebnisse gefunden.
Lösungen
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REM Elektrische Analyse
System für die beste quantitative Elektronik und Software für die Analyse elektrischer Eigenschaften in SEM und FIB/SEM. -
Topographische Analyse
Equipment für Live- und kalibrierte BSE Höhenmessungen, mit SEM oder FIB-SEM -
REM Modernisierung
Mehr als nur ein Upgrade! - Die REM Modernisierung verschafft Ihrem REM ein zweites Leben - dank komplett neuer Elektronik, Software und Steuerungen.
Aktuelles
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Wir machen mit beim Girls'Day und Boys'Day 2025
Wir laden Schülerinnen und Schüler am 3. April herzlich zu uns ein, einen Einblick in die Tätigkeiten und Berufsfelder rund um die Elektronenmikroskopie zu gewinnen. -
Job Angebot im Bereich bildbasierte 3D-Rekonstruktion
Für ein gemeinsames Projekt mit uns sucht die PTB Braunschweig eine/n Wissenschaftlerin / Wissenschaftler oder Doktorand / Doktorandin (m/w/d) im Bereich bildbasierte 3D-Rekonstruktion -
Aging SEMs: Repair, Replace, or Modernize?
Neuer Artikel in der Zeitschrift „Microscopy and Analysis” über einen neuen Ansatz, der nachhaltigen Mikroskop-Service zu geringeren Kosten und mit minimalen Auswirkungen auf die Umwelt bietet. -
Verleihung der Heinz-Bethge-Preise 2026
point electronic unterstützt zum zweiten Mal in Folge -
Publikation über den ersten kombinierten Einsatz von 4D-STEM- und STEM-EBIC-Verfahren
"In-Operando 4D-STEM and STEM-EBIC Imaging of Electric Fields and Charge Carrier Behavior in Biased Silicon p–n Junctions.", publiziert in Advanced Electronic Materials.
Veranstaltungen
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MC 2025
Karlsruhe, Deutschland -
CAM Workshop 2025
Halle (Saale), Deutschland -
mmc2025
Manchester, UK -
ICEM 2025
IN-SITU AND CORRELATIVE ELECTRON MICROSCOPY Conference & Workshops (ICEM) 2025 -
M&M 2025
Salt Lake City, Utah (USA) -
IPFA 2025
Penang, Malaysia -
MCM17 2025
Portorož, Slovenien -
ISTFA 2025
Pasadena, USA -
Materialographie 2025
Bochum, Deutschland -
National Conference on Electron Microscopy 2025
China