Gleich zwei Innovationspreise hat point electronic erhalten für die technischen Fortschritte, die mit der neu entwickelten Elektronik und Software für die elektrische In-situ-Analyse in der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) erzielt wurden. Für die Entwicklung wurde dem Unternehmen der renommierte „Hugo-Junkers-Preis für Forschung und Innovation Sachsen-Anhalt“ vom Wissenschaftsministerium des Landes in der Kategorie „Innovativste Projekte der angewandten Forschung“ verliehen, sowie der der IQ Innovationspreis der Stadt Halle.

Das von der point electronic GmbH entwickelte und hergestellte neue Equipment schließt eine Lücke bei der Erforschung der nächsten Generation von Halbleiterbauelementen. Etablierte TEM-Techniken liefern hochauflösende Bilder von Struktur und Zusammensetzung dieser Bauteile, geben aber keinen direkten Einblick in ihre funktionalen Teile und ihren Betrieb.

Die neue Technologie ermöglicht einen direkten Blick auf die internen elektrischen Felder unter Betriebsbedingungen sowie die direkte Lokalisierung von elektrischen Fehlern und Defekten mit der höchstmöglichen Auflösung. Sie bringt elektrische Analysetechniken, wie z.B. Electron Beam Induced Current (EBIC), ins TEM durch eine enge Integration eines speziellen EA-Verstärkers für den TEM-Vorspannungshalter und eines kalibrierten TEM-Scan-Controllers für die Quantifizierung. Fortgeschrittene Messungen von elektrischen Parametern werden durch Hardware-Kalibrierung und quantitative Software ermöglicht.

Wir sind sehr dankbar für die Auszeichnungen, sie sind eine große Ehre für uns. Wir würdigen das hohe Niveau aller Bewerbungen. Und natürlich beglückwünschen wir das gesamte Team zu diesem großartigen Ergebnis.