EA Verstärker für TEM – point electronic GmbH

Der Miniaturverstärker wurde für die elektrische Analyse im TEM entwickelt, um Ströme zu verstärken, die durch den Elektronenstrahl in internen Feldern von Nanodevices und TEM-Lamellen induziert werden.

Für minimales Rauschen und maximale Geschwindigkeit bei der Bildaufnahme wird er direkt auf TEM-Vorspannungshalterungen montiert. Es umfasst die erste Verstärkungsstufe mit einer breiten konfigurierbaren Verstärkung, eine Bias-Spannungsquelle und eine Stromkompensation mit Stromgrenzen und automatischem IV-Sweep, einen schaltbaren Tiefpass für die Signalfilterung und eine automatische Null-/Dunkel-Anpassung für die Quantifizierung.

Elektronenstrahlinduzierte Ströme (EBIC)

Bilden Sie innere elektrische Felder in Halbleitern und Keramiken ab
Charakterisieren Sie die elektrische Aktivität von Defekten
Lokalisieren Sie Material- und/oder Verarbeitungsfehlern

make

Input-Kanäle

4x zum In-situ-Vorspannungshalter, oder
6x zum In-situ-Vorspannungshalter

Routing

EA high (Vorverstärker)
EA low (Masse oder Vorspannung)
Extern

Vorverstärker

10⁴ ... 10⁹V/A variable Verstärkung
ca. 100 kHz Bandbreite bei 10⁷ V/A

Interne Quellen

-5 ... 5 V, 16-Bit Vorspannung
-1 ... 1 µA, 16-Bit Kompensationsstrom
10 µA, 30 µA und 100 µA Bias-Stromgrenzen

EA Amplifier für TEM

Wissenschaftliche Veröffentlichungen

The emergence of Electrical Analysis in electron microscopy PDF

Electrical Analysis for TEM brochure PDF