emc 2024

25.08.2024 - 30.08.2024

  • Bella Center Copenhagen
  • Kopenhagen, Dänemark
  • Stand-Nr.: A12

Über den European Microscopy Congress:

Der Europäische Mikroskopiekongress 2024 (emc2024) bringt die Welt der wissenschaftlichen Bildgebung zusammen.

Im Fokus stehen die Licht- und Elektronenmikroskopie in den physikalischen und biologischen Wissenschaften. Die Konferenz bringt Mikroskopiker, Hersteller und Lieferanten zusammen, um sich über neue Techniken, Anwendungen und Technologien auszutauschen.

point electronic's Themen vor Ort:

Ihr Kontakt vor Ort:

Christoph Sichting

Grigore Moldovan

Matthias Hemmleb

Mathias Mosig

Unsere Poster-Präsentationen

Development of chopped scan control for beam blanking
IM-02 -- Paper-Nr. 924
Montag - Dienstag, 26.-27. August - 16.00 - 18:30 Uhr

3D calibration for SEM and optical microscopy - First results with next generation 3D standards
IM-04 -- Paper-Nr. 831
Montag - Dienstag, 26.-27. August - 16.00 - 18:30 Uhr

In-Situ microscopy study on self-healing process of vitrimers
IM-01 -- Paper-Nr. 1098
Montag - Dienstag, 26.-27. August, 16.00-18.30 Uhr
(toghether with TUHH)

Pulse counting in the SEM
IM-02 -- Paper-Nr. 1330
Montag - Dienstag, 26.-27. August - 16.00 - 18:30 Uhr
(by our partner turboTEM)

KEIN TALK, ABER EINE COOLE SACHE:

Wir laden Sie ein auf ein point electronic Eis!

Besuchen Sie unseren Stand #A12, folgen Sie uns, und genießen Sie ein kühles Eis von uns.

Wir freuen uns auf Sie!

Eiscreme-Zeiten: Montag, Dienstag und Mittwoch | 14 - 16 Uhr

Verpassen Sie nicht unsere Präsentationen.

Development of chopped scan control for beam blanking

Montag, 26. August 2024
16:00 (Europe/Berlin)

Eine neue Methode zum Beam Blanking, bei der der Elektronenstrahl mit Hilfe der normalen Scanspulen in ein Vakuum oder einen Punkt in der Probenebene abgelenkt wird. Dadurch entfällt der Bedarf an zusätzlicher Hardware für die Ablenkung, und die Komplexität des Beam Blankings wird ausschließlich auf den Scan Controller übertragen. Dies ermöglicht eine flexiblere Steuerung der Elektronendosis und die Synchronisierung mit externen Clocks.

3D calibration for SEM and optical microscopy - First results with next generation 3D standards

Montag, 26. August 2024
16:00 (Europe/Berlin)

Derzeitige 3D-Standards, die mittels FIB hergestellt werden, sind teuer, individuell hergestellt und erfordern eine zeitaufwändige Kalibrierung, wobei Größe und Anwendungsbereich begrenzt sind. Um diese Einschränkungen zu vermeiden, haben wir ein waferbasiertes Maskierungsverfahren für die Herstellung von 3D-Standards entwickelt.

In-situ microscopy study on self-healing vitrimers

Montag, 26. August 2024
16:00 (Europe/Berlin)

Poster gemeinsam mit der Technischen Universität Hamburg Harburg

Pulse counting in the SEM

Montag, 26. August 2024
16:00 (Europe/Berlin)

Poster unseres Partners turboTEM

Mehr Informationen über den tuboTEM Pulse Signal Digitizer finden Sie hier: turboTEM pulse processor.

Genießen Sie ein exklusives point electronic Eis.

Montag, 26. August 2024
14:00 (Europe/Berlin)

KEIN TALK, ABER EINE COOLE SACHE:

Wir laden Sie ein auf ein point electronic Eis!

Besuchen Sie unseren Stand #A12, folgen Sie uns, und genießen Sie ein kühles Eis von uns.

Wir freuen uns auf Sie!

Eiscreme-Zeiten: Montag, Dienstag und Mittwoch | 14 - 16 Uhr