BSE Topografie
Topografiemessungen werden als geometrische Analysetechnik in der Elektronenmikroskopie verwendet, um hochaufgelöste 3D Messungen der Oberflächenform auszuführen. Diese Technik wird im REM und in FIB-REM Systemen für vielfältige Messaufgaben, angefangen von einfachen Koordinaten-, Abstands- und Winkelmessungen bis hin zu Volumen- und Rauheitsmessungen genutzt. Es handelt sich um eine spezielle Auswertung BSE-Messungen, mit der es möglich ist, die Topografie unabhängig von der Zusammensetzung der Probe zu bestimmen und damit Höhen- und Materialinformation simultan bereitzustellen.
EM-Topographiemessungen sind eine Schlüsseltechnologie für Analysen, welche auf die Unterscheidung zwischen der Probentopografie und -zusammensetzung angewiesen sind. Die Technik ermöglicht Messungen über einen weiten Vergrößerungsbereich für Proben mit unterschiedlichen Aspekt-Verhältnissen.
Komplexe Oberflächen
- Analyse von Bruchflächen
- Analyse von korrodierten Oberflächen
- Analyse von erodierten Materialien
Mechanische Präzisionswerkzeuge
- Inspektion von Messspitzen
- Inspektion von Schneidkanten
In-situ-Oberflächendynamik
- Hochtemperaturexperimente
- In-Situ-Reaktionen
