BSE Topografie
Topografiemessungen werden als geometrische Analysetechnik in der Elektronenmikroskopie verwendet, um hochaufgelöste 3D Messungen der Oberflächenform auszuführen. Diese Technik wird im REM und in FIB-REM Systemen für vielfältige Messaufgaben, angefangen von einfachen Koordinaten-, Abstands- und Winkelmessungen bis hin zu Volumen- und Rauheitsmessungen genutzt. Es handelt sich um eine spezielle Auswertung BSE-Messungen, mit der es möglich ist, die Topografie unabhängig von der Zusammensetzung der Probe zu bestimmen und damit Höhen- und Materialinformation simultan bereitzustellen.
BSE-Topographiemessungen sind eine Schlüsseltechnologie für Analysen, welche auf die Unterscheidung zwischen der Probentopografie und -zusammensetzung angewiesen sind. Die Technik ermöglicht Messungen über einen weiten Vergrößerungsbereich für Proben mit unterschiedlichen Aspekt-Verhältnissen.
Topografische Analyse
System für Live- und kalibrierte Höhenmessungen, mit REM oder FIB-REM
Mehr erfahren…3D Kalibrier Kit
System für Topographie-Kalibrierung für Elektronenmikroskope.
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