Elektrische Analyse

Was ist elektrische Analyse mit dem Elektronenmikroskop?

Für die Elektronische Analyse (EA) mittels Elektronenmikroskopie stehen eine Reihe von Techniken zur Verfügung, mit denen sich fundamentale elektrische Eigenschaften von Materialien und elektronischen Bauteilen mit hoher räumlicher Auflösung abbilden und messen lassen.

Zum Beispiel erlauben es die Aufnahme absorbierter Primärstrahlströme (EBAC für Electron Beam Absorbed Current) sowie die Aufnahme von elektronenstrahlinduzierten Strömen (EBIC für Electron Beam Induced Current) die Widerstandsverläufe abzubilden (RCI für Resistive Contrast Imaging), die räumliche Verteilung interner Felder darzustellen, die Rekombinationsrate an Defekten zu messen usw.

Unsere Lösungen

Entdecken Sie Techniken, Systemlösungen und Produkte für die Elektrische Analyse im Elektronenmikroskop.

Techniken: Lösungen für Techniken wie EBIC, EBAC, RCI oder EBIRCh

Systeme: umfassende Lösungen für Anwendungen wie Elektrische Analyse für SEM, Elektrische Analyse für TEM oder Elektrische Fehleranalyse

Produkte: point electronic Produkte, die Ihre elektrische Analyse auf ein neues Level heben