EA Verstärker für TEM
Der Miniaturverstärker wurde für die elektrische Analyse im TEM entwickelt, um Ströme zu verstärken, die durch den Elektronenstrahl in internen Feldern von Nanodevices und TEM-Lamellen induziert werden.
Für minimales Rauschen und maximale Geschwindigkeit bei der Bildaufnahme wird er direkt auf TEM-Vorspannungshalterungen montiert. Es umfasst die erste Verstärkungsstufe mit einer breiten konfigurierbaren Verstärkung, eine Bias-Spannungsquelle und eine Stromkompensation mit Stromgrenzen und automatischem IV-Sweep, einen schaltbaren Tiefpass für die Signalfilterung und eine automatische Null-/Dunkel-Anpassung für die Quantifizierung.
Elektronenstrahlinduzierte Ströme (EBIC)
- Bilden Sie innere elektrische Felder in Halbleitern und Keramiken ab
- Charakterisieren Sie die elektrische Aktivität von Defekten
- Lokalisieren Sie Material- und/oder Verarbeitungsfehlern
