EA Verstärker für TEM

EA-Verstärker für TEM - Elektronik für In-situ-Biasing-Halter

Der Miniaturverstärker wurde für die elektrische Analyse im TEM entwickelt, um Ströme zu verstärken, die durch den Elektronenstrahl in internen Feldern von Nanodevices und TEM-Lamellen induziert werden.

Für minimales Rauschen und maximale Geschwindigkeit bei der Bildaufnahme wird er direkt auf TEM-Vorspannungshalterungen montiert. Es umfasst die erste Verstärkungsstufe mit einer breiten konfigurierbaren Verstärkung, eine Bias-Spannungsquelle und eine Stromkompensation mit Stromgrenzen und automatischem IV-Sweep, einen schaltbaren Tiefpass für die Signalfilterung und eine automatische Null-/Dunkel-Anpassung für die Quantifizierung.

Der Verstärker ist Teil des EA für TEM Systems.

Features

• Analogverstärkung in der ersten Stufe für minimales Rauschen
• Großer Verstärkungsbereich für alle EA-Techniken und Proben
• Eingebaute Vorspannungs- und Stromkompensation
• Automatisierte Signalführung zur Vermeidung elektrischer Entladungen
• Umschaltbare Tiefpässe zur Signalfilterung
• Automatischer Nullabgleich

Techniken zur Elektrischen Analyse:

Elektronenstrahl­induzierte Ströme (EBIC)

• Bilden Sie innere elektrische Felder in Halbleitern und Keramiken ab
• Charakterisieren Sie die elektrische Aktivität von Defekten
• Lokalisieren Sie Material- und/oder Verarbeitungsfehlern

make

• EA Amplifier für TEM