EA Verstärker für TEM

Der Miniaturverstärker wurde für die elektrische Analyse im TEM entwickelt, um Ströme zu verstärken, die durch den Elektronenstrahl in internen Feldern von Nanodevices und TEM-Lamellen induziert werden.

Für minimales Rauschen und maximale Geschwindigkeit bei der Bildaufnahme wird er direkt auf TEM-Vorspannungshalterungen montiert. Es umfasst die erste Verstärkungsstufe mit einer breiten konfigurierbaren Verstärkung, eine Bias-Spannungsquelle und eine Stromkompensation mit Stromgrenzen und automatischem IV-Sweep, einen schaltbaren Tiefpass für die Signalfilterung und eine automatische Null-/Dunkel-Anpassung für die Quantifizierung.

Elektronenstrahl­induzierte Ströme (EBIC)

  • Bilden Sie innere elektrische Felder in Halbleitern und Keramiken ab
  • Charakterisieren Sie die elektrische Aktivität von Defekten
  • Lokalisieren Sie Material- und/oder Verarbeitungsfehlern