EBIC
Die Aufnahme der an einem probeninternen elektrischen Feld elektronenstrahlinduzierten Ströme (EBIC für Electron Beam Induced Current) ist eine Elektrische Analysetechnik der Elektronenmikroskopie. Diese Technik erlaubt neben der Darstellung der räumlichen Verteilung interner elektrische Felder und der Lokalisierung von Defekten die Bestimmung der Quanteneffizienz, der Rekombinationsstärke, der Diffusionslänge von Minoritätsladungsträgern und der elektrischen Aktivität von Defekten.
EBIC bildet eine hervorragende Brücke zwischen elektronischer und struktureller Analyse von Halbleiter- und Keramikbauteilen und besitzt entscheidende Vorteile bei der
- Entwicklung von Halbleitertechnik bis zu Größenskalen im Nanometerbereich
- Charakterisierung von photovoltaischen Zellen, optoelektronischen Bauelementen und Halbleiter-Leistungselektronik
- Grundlagenforschung an Kristalldefekten und deren elektrischen Aktivität
- Rekonstruktion von Halbleiterbauelementen (reverse engineering)
- Elektronische Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen wie photovoltaischen Zellen, Prozessoren, Sensoren, Speicher
EBIC, EBAC und EBAC/RCI: Wo ist der Unterschied?
Die EBAC Technik ist die Aufnahme absorbierter Primärstrahlströme (Electron Beam Absorbed Current). Diese Technik kann also an jeder Probe angewendet werden, die eine Leitfähigkeit größer 0 aufweist. Dabei wird die Probe nur an einer Stelle kontaktiert. Kontraste liefern Aufladungseffekte (Voltage contrast imaging) sowie die Materialabhängigkeit und Topographieabhängigkeit der Sekundärelektronenemission und des Rückstreukoeffizient. Eine Erweiterung der Technik ist EBAC/RCI. Hierbei wir die Probe an zwei Stellen kontaktiert. Die Position des Strahls teilt den Widerstand zwischen beiden Kontakten auf. Der Widerstandsverlauf und die Position des Strahls bestimmen den vom Verstärker gemessen Anteil des absorbierten Primärstrahlstromes. Es lässt sich die Widerstandsverteilung abbilden.
Die EBIC Technik ist die Aufnahme der an probeninternen elektrischen Feldern, elektronenstrahlinduzierten Ströme. Diese Technik wird bei Proben mit Bandlücke und probeninternen elektrischen Feld angewendet. Die Probe wird an beiden Seiten des internen Feldes kontaktiert. Entsprechend einer photovoltaischen Zelle fließt bei Anregung am probeninternen Feld ein Strom zwischen beiden Kontakten, welcher durch den point electronic EA Verstärker bestimmt wird.
Die gemessenen Stromstärken liegen bei der EBIC-Technik meist Größenordnungen über denen der EBAC-Technik. Der messtechnische Anspruch ist bei EBAC somit deutlich höher zu bewerten. Insbesondere bei EBAC-RCI ist die Vermessung kleiner Widerstände herausfordernd. Zur Reduzierung von Störsignalen hält Point electronic einen speziell entwickelten InSitu-Vorverstärker bereit, welcher zudem EBAC/RCI Vermessung von kleinen Widerständen bis runter zu 100Ohm ermöglicht.
Elektrische Analyse im TEM
In-situ Bilgebung von elektrischen Aktivitäten auf Nano-Level.
Mehr erfahren…Elektrische Analyse im REM
Die beste quantitative Elektronik und Software für die Analyse elektrischer Eigenschaften in SEM und FIB/SEM.
Mehr erfahren…Elektrische Fehleranalyse
Spezialisierte Ausrüstung für die Fehleranalyse, von der Einstiegsstufe bis zur High-End-Lösung.
Mehr erfahren…