Geometrische Analyse

Was ist geometrische Analyse im Elektronenmikroskop?

Unter dem Begriff geometrische Analyse im REM werden Verfahren zusammengefasst, welche die Messung von Positionen, Abständen, Höhen, Winkeln, Oberflächenformen, Volumina von Proben und daraus abgeleiteten Parametern ermöglichen. Derzeit liegt der Schwerpunkt auf Techniken, die eine dreidimensionale (3D) Erkundung und Modellierung von Mikrostrukturen ermöglichen.

Diese fortschrittlichen Techniken haben auf der Grundlage der neuesten Generation von kalibrierter Elektronik und quantitativer Software, die die Komplexität des Betriebs reduzieren, die Rekonstruktionsalgorithmen automatisieren und die Genauigkeit der Endergebnisse verbessern, einen Sprung gemacht.

Unsere Lösungen

Entdecken Sie Techniken, Systemlösungen und Produkte für die Geometrische Analyse im Elektronenmikroskop.

Techniken: Lösungen für Techniken wie BSE Topographie oder 3D Calibrierung

Systeme: umfassende Lösungen für Anwendungen wie Topographische Analyse oder das point electronic 3D Kalibrier Kit

Produkte: point electronic Produkte für anspruchsvolle geometrische Analysen