Magnetfelddämpfung (Spicer Consulting)
Magnetfeldkompensation, Site Survey und Raumaufmessung - mit Systemen von Spicer Consulting
Maximieren Sie die Leistung und Bildqualität Ihres Elektronenmikroskops - mit Lösungen zur Magnetfeldkompensation und Interferenzmessung von Marktführer Spicer Consulting.
Wir als point electronic sind Vertriebspartner von Spicer Consulting in Deutschland.
Unsere Services:
✔ Beseitigung von Magnetfeldstörungen
✔ Fehlerbehebung bei bestehenden Mikroskopen mit Störungsproblemen
✔ Unterstützung vor der Installation Ihres REM, TEM und FIB-REM:
- Eignungsprüfung des angedachten Aufstellstandorts
- Raumaufmessung und Medienplanung des optimalen Aufstellorts
✔ Monitoring - mit Langzeit- und Kurzzeitmessungen:
- Magnetfelder
- Akustische Störungen
- Vibrationen
- Feuchtigkeit
- Temperatur
Schaffen Sie die beste Umgebung und schützen Sie Ihr Mikroskop
Spicer Consulting ist weltweit führend im Bereich Magnetfeldkompensation und Interferenz-Monitoring. Die Systeme des Unternehmens wurden speziell entwickelt, um magnetische Interferenzen in REM-, TEM- und ähnlichen Umgebungen zu minimieren, und gelten als Industriestandard.
Unsere Dienstleistungen:
Den besten Aufstellort für Ihr REM und TEM finden
Wir analysieren vor der Installation die verfügbaren Aufstellorte in Ihren Räumlichkeiten.
Und wir beraten Sie, um den Standort mit den besten und störungsärmsten Betriebsbedingungen für das Mikroskop zu finden.
Den REM- und TEM-Aufstellort planen
Wir analysieren den vorgesehenen Aufstellort und unterstützen Sie bei der Optimierung der Umgebungsbedingungen.
Unser Service umfasst Interferenzanalyse wie auch die Analyse und Planung der notwendigen Medien.
Interferenzen messen und beseitigen
Wir diagnostizieren die Ursache und empfehlen Lösungen für:
Magnetfelder
Akustische Störungen
Vibrationen
Feuchtigkeit
Temperatur
Magnetfeld-Dämpfungssysteme
Spicer Consulting bietet verschiedene Systeme für unterschiedliche Einsatzzwecke:
SC28 Magnetfeld-Überwachung von Spicer Consulting
Das Monitoring-System SC28 ist für die Umgebungsüberwachung von Elektronenstrahlgeräten, einschließlich Rasterelektronenmikroskopen (SEM), Transmissionselektronenmikroskopen (TEM), Elektronenstrahl-Lithographiegeräten und CDSEM-Geräten, konzipiert.