Neue Zusammenarbeit im Bereich In-situ-Mikroskopie: Ein Hochtemperatur-BSE-Topographiesystem für die In-situ-Mikroskopie von point electronic ist auf dem ThermoFisher Quattro S ESEM in der Elektronenmikroskopie-Einheit (BEEM) der Technischen Universität Hamburg (TUHH) in Betrieb genommen worden. Unter der Leitung von Dr. Martin Ritter, Dr. Tobias Krekeler und Dr. Gunnar Schaan, BEEM – der zentralen wissenschaftlichen Betriebseinheit der TUUH – entwickeln wir unsere In-situ-Analyselösungen weiter, jetzt mit dem point electronic Hochtemperatur-BSE-Detektor.

Mit einer 4-Quadranten-Geometrie und einer Vorspannung ermöglicht das Hochtemperatur-BSE-Topographiesystem quantitative Live-Messungen von Oberflächenhöhen auch bei extremen Temperaturen. Das einzigartige elektrodenbasierte Detektordesign macht das System unempfindlich gegenüber Licht und thermischen Elektronen, die von heißen Proben emittiert werden, und ist zudem wartungs- und bedienungsfreundlich.

Vielen Dank an das BEEM-Team für sein Engagement – wir wünschen Ihnen erfolgreiche wissenschaftliche Forschungen und Entdeckungen. Ein großes Dankeschön auch an unseren CTO Dr. Grigore für die fachkundige Installation und wissenschaftliche Unterstützung.