IPFA 2025

05.08.2025 - 08.08.2025

Spice Convention Center
Penang, Malaysia
Stand-Nr.: A3
ipfaieee.org

Über die IPFA 2025:

IPFA 2025 ist das 32. IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS und findet in Penang, Malaysia, statt.

Wir werden am Stand #A3 zusammen mit unserem Partner Shanghai Winner teilnehmen.

point electronic's Themen vor Ort:

REVOLON TEM Scan Controller: ein neuer Standard für STEM
Elektrische Analyse
Elektrische Analyse im TEM
Elektrische Analyse im REM

Ihr Kontakt vor Ort:

René Hammer

Verpassen Sie nicht unsere Präsentationen.

Scan-assisted Lock-In RCI and EBIRCH for localization of resistive defects

Donnerstag, 7. August 2025
10:55 (Asia/Kuala_Lumpur)
Raum D2

Unser Talk auf der IPFA 2025 präsentiert eine neue Lösung für das scanunterstützte Beam Blanking für Lock-In-EFA als Alternative zum elektrostatischen Beam Blanking. Er behandelt das scanunterstützte Lock-In-EFA und dessen Anwendung auf Zwei-Sonden-EFA-Messungen an Proben mit niedrigem Widerstand und Defekten.

Unser Kontakt: info@pointelectronic.de

Donnerstag, 10:55 Uhr - Raum D2

René Hammer
Product Manager / Scientist

Ultra-low pA-level noise EBIC and RCI of high impedance samples

Donnerstag, 7. August 2025
13:05 (Asia/Kuala_Lumpur)
Raum D1

Dieser Vortrag auf der IPFA2025 behandelt ein neues EFA-System für Anwendungen mit niedrigem Strahlstrom, das eine spezielle In-situ-Vorverstärkung nutzt. Es werden RCI-Messungen unter Verwendung einer rauscharmen In-situ-Vorverstärkung mit Anwendungsbeispielen vorgestellt.