Unser Kollege René Hammer von point electronic GmbH hat zusammen mit Lorenzo Rogliani, Servicetechniker bei JEOL Ltd. Italia, das System für Elektrische Analyse auf einem FE-SEM JSM-IT800 für das Team des CNR-IMM (Istituto per la microelettronica e microsistemi) nter der Leitung von Stefania Privitera und R. Gabriella Milazzo installiert. Bei diesem Projekt haben unsere beiden Unternehmen eng zusammengearbeitet.

Das CNR-Team wird Solarzellen, Einzelphotonen-Detektoren und andere Geräte wie Dioden, Sensoren oder Speicher untersuchen, die in ihrem Labor hergestellt werden. „Mit dem EA-System von point electronic haben wir die Möglichkeit, mehr Einblick in die Auswirkungen von Randstrukturen und Defekten zu gewinnen und die Ausfallmechanismen zu identifizieren“, sagt Stefania Privitera.

Das EA-System von point electronic ermöglicht fortschrittliches EBIC mit ultraschneller Mehrkanal-Bildgebung, Live-Farbmischung, quantitativen Signalen, In-situ-Vorverstärkung und integrierter elektrischer Lock-in-Analyse.

Es wurde nahtlos in das JEOL JSM-IT800SHL (Schottky FE-SEM mit JEOL Gather-X EDS und Super-Hybrid-Linse) integriert, einschließlich vollständiger Automatisierung und Verbindung zu SEM-Parametern.

Beide Teams, JEOL (ITALIA) SpA und das CNR-IMM, bewerteten die Installation als effizient und einfach.

„Wir haben umfassende Unterstützung bei Fragen und Vorschlägen zur Verbesserung unserer Analyse erhalten“, sagt Stefania Privitera.

Wir danken Stefania Privitera, R. Gabriella Milazzo und dem gesamten CNR-IMM-Team – wir wünschen Ihnen weiterhin viel Erfolg mit dem SEM! Ein großes Dankeschön auch an JEOL (ITALIA) SpA, insbesondere an Gabriele Bulla, Paolo Grianti und Lorenzo Rogliani, für die großartige Unterstützung und die inspirierende Zusammenarbeit!