ISTFA 2025

16.11.2025 - 20.11.2025

Über die ISTFA:

Das 51. Internationale Symposium für Test- und Fehleranalyse („International Symposium for Testing and Failure Analysis“, ISTFA) ist eine wichtige internationale Veranstaltung für die Mikroelektronik-Fehleranalyse.

point electronic GmbH wird am gemeinsamen Stand 509 mit unserem Partner Angstrom Scientifc vor Ort sein.

point electronic's Themen vor Ort:

Ihr Kontakt vor Ort:

René Hammer

Verpassen Sie nicht unseren Talk.

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Scan-assisted Lock-In RCI and EBIRCH for localization of resistive defects

Dienstag, 18. November 2025
13:50 (America/Los_Angeles)

Unser Talk auf der ISTFA 2025 präsentiert eine neue Lösung für das scanunterstützte Beam Blanking für Lock-In-EFA als Alternative zum elektrostatischen Beam Blanking. Er behandelt das scanunterstützte Lock-In-EFA und dessen Anwendung auf Zwei-Sonden-EFA-Messungen an Proben mit niedrigem Widerstand und Defekten.

Unser Kontakt: info@pointelectronic.de

Dienstag, 13:50 Uhr

René Hammer
Product Manager / Scientist

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