Development of chopped Scan Mode with lock-in amplification for electrical analysis of devices

Mittwoch, 30. Juli 2025
15:00 (America/Boise)
Poster Session A07.P1 - poster no. 2063707

In unserem Poster zeigen wir eine neuartige Lock-in-amplification-Methode, bei der Standard-Scan-Spulen anstelle spezieller Beam-Blanker verwendet werden.

Sie ermöglicht eine erhebliche Rauschreduzierung, eine verbesserte Messempfindlichkeit und eine breitere Zugänglichkeit ohne zusätzliche Hardware.

Dr. Grigore Moldovan
CTO

Towards Cinematic STEM and Beyond: Fast frame rates using overdriven scan shaping

Donnerstag, 31. Juli 2025
08:30 (America/Boise)
250 F

Präsentation: Lewys Jones, Trinity College Dublin

Depth information from backscattered scanning electron microscope images using multiple beam energies and parameter estimation methods

Montag, 28. Juli 2025
14:00 (America/Boise)
251 A

In diesem Vortrag zeigen wir, wie die Analyse von rückgestreuten Elektronen-SEM-Bildern nanoporöser Proben bei verschiedenen Strahlenergien die Trennung von Oberflächen- und Unteroberflächensignalen ermöglicht - unter Ausnutzung des Durchscheineffekts -, um die 3D-Strukturrekonstruktion mit Hilfe der kleinsten quadratischen Parameterschätzung zu verbessern.

Der Talk wird von Dr. Martin Ritter gehalten, Technische Universtität Hamburg

Perspectives and Limitations of STEM EBIC Measurements for the Characterization of Semiconductor Devices

Dienstag, 29. Juli 2025
11:30 (America/Boise)
151 DEF

In diesem Vortrag wird die Verwendung von STEM-EBIC-Messungen an einer handelsüblichen Silizium-Fotodiode zur Untersuchung des Ladungstransports im Nanobereich und des Einflusses der Probenvorbereitung, insbesondere der Dicke und der Ga-Implantation, auf die Signalqualität und das elektrische Verhalten gezeigt. Die Messungen wurden mit einem JEOL Jem F-200C-Mikroskop durchgeführt, das mit einem elektrischen Analysesystem von point electronic ausgestattet war. Diese Konfiguration ermöglichte eine hochauflösende Visualisierung der Verarmungszone der Fotodiode und unterstützte fortschrittliche komplementäre Techniken wie DPC und Elektronenholographie.

DISS6 (point electronic) and Felis camera (ASI) making 4D STEM in SEM affordable

Montag, 28. Juli 2025
17:45 (America/Boise)
am point electronic Stand 2136

Vendor Tutorial: DISS6 ist ein open-access REM-Scangenerator, der höchste Scangeschwindigkeit und Hardwaresynchronisation ermöglicht. Der Felis T3 Detektor ist ein Hybrid-Pixeldetektor (HPD) von Amsterdam Scientific Instruments auf Basis des Timepix3-ASIC. Gemeinsam in einer neuen Lösung integriert, bringen sie die extreme Vielfalt der 4D-STEM-Techniken in das SEM ein, einschließlich einer extrem hohen effektiven Bildrate aufgrund der ereignisgesteuerten Daten.

Montag, 17:45 Uhr

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Future-Proof your SEM: How Modernizations will give your SEM a second life

Dienstag, 29. Juli 2025
17:45 (America/Boise)
am point electronic Stand 2136

• Ist Ihre REM-Säule noch immer leistungsstark, aber Elektronik und Software sind veraltet?
• Wussten Sie, dass Sie Ihr REM mit moderner, störungsarmer Hochgeschwindigkeits-Elektronik aufrüsten und so die Leistung und Effizienz für die kommenden Jahre steigern können?

Mit der REM Modernisierung von point electronic profitieren Sie von benutzerfreundlicher Software, Automatisierung und Betriebssystemkompatibilität – und das zu einem Bruchteil der Kosten eines neuen REM.

Nehmen Sie an unserem Vendor Tutorial teil und erfahren Sie, warum mehr als 250 Kunden sich dafür entschieden haben, ihre REMs zu modernisieren und mit point electronic auf den neuesten Stand der Technik zu bringen.

Dienstag, 17:45 Uhr

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A new level of integration: DECTRIS NOVENA combined with REVOLON’s free, fast and flexible STEM control

Mittwoch, 30. Juli 2025
17:45 (America/Boise)
am point electronic Stand 2136

Vendor Tutorial: Können Sie den STEM-Modus in Ihrem TEM auf > 35 fps beschleunigen? REVOLON wurde für flexible Hochgeschwindigkeits-Elektronenmikroskopie entwickelt. Der TEM Scan Controller ermöglicht uneingeschränkten Zugriff auf den Elektronenstrahl und unterstützt Pixel Maps und erweiterte Scanmodi. Für schnelles Scannen bietet REVOLON maximale Geschwindigkeit für In-situ-STEM, mit ultraschneller Kommunikation auf Hardware-Ebene mit externen Geräten wie 4D-STEM-Kameras und ermöglicht lückenlose Bilder.

REVOLON ist mit einer Vielzahl von TEM-Hardware und -Software kompatibel, darunter DECTRIS 4D-STEM-Kameras und NOVENA Acquire.

Mittwoch, 17:45 Uhr

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