National Conference on Electron Microscopy 2025
26.09.2025 - 30.09.2025
- Wuhan International Conference Center
- Wuhan, China
- Stand-Nr.: booth of Shanghai Winner
- mp.weixin.qq.com
Über die National Conference on Electron Microscopy 2025:
Die National Conference on Electron Microscopy wird von der Chinese Electron Microscopy Society organisiert und findet 2025 zum zweiten Mal statt.
Treffen Sie uns am Stand unseres Partners Shanghai Winner.
point electronic's Themen vor Ort:
- REVOLON TEM Scan Controller: ein neuer Standard für STEM
- PULSE Signal Digitizer: PULSE von turboTEM ist ein Echtzeit-Signalprozessor, der eine digitale Bildgebung ermöglicht, ohne dass der vorhandene analoge Detektor ersetzt werden muss.
- BSE Detection: Materialdichtekartierung mit hoher räumlicher Auflösung, Charakterisierung heißer Proben, auch bei Temperaturen über 1.000ºC
- BSE Topografie: quantitatitve Höhenmessungen
- Elektrische Analyse im TEM
- Elektrische Analyse im REM
Ihr Kontakt vor Ort:
Unser Talk :
tbd