Über die ISTFA:
Das 52. Internationale Symposium für Test- und Fehleranalyse („International Symposium for Testing and Failure Analysis“, ISTFA) ist eine wichtige internationale Veranstaltung für die Mikroelektronik-Fehleranalyse.
Das 52. Internationale Symposium für Test- und Fehleranalyse („International Symposium for Testing and Failure Analysis“, ISTFA) ist eine wichtige internationale Veranstaltung für die Mikroelektronik-Fehleranalyse.