ISTFA 2026

04.10.2026 - 08.10.2026

Über die ISTFA:

Das 52. Internationale Symposium für Test- und Fehleranalyse („International Symposium for Testing and Failure Analysis“, ISTFA) ist eine wichtige internationale Veranstaltung für die Mikroelektronik-Fehleranalyse.

Sie finden uns an Stand 710 unseres US-Partners Angstrom Scientific.

point electronic's Themen vor Ort:

Ihr Kontakt vor Ort:

René Hammer

Verpassen Sie nicht unsere Präsentationen.

Low noise STEBIC on low resistive samples

Donnerstag, 8. Oktober 2026
10:50 (America/North_Dakota/Center)

Unser Vortrag auf der ISTFA 2026 stellt eine neuartige Lösung für rauscharme STEM-EBIC-Messungen an Proben mit geringem Widerstand vor. Während STEM-EBIC direkten Zugang zu internen elektrischen Feldern und Bauteilparametern wie der Diffusionslänge von Minoritätsladungsträgern und der Breite der Depletion Region bietet, stellt die Probenvorbereitung eine Herausforderung dar. Strukturelle Defekte (amorphe Schichten, Metallabscheidung, Ionenimplantation) verursachen parasitäre Widerstände, die das Niederfrequenzrauschen bei STEM-EBIC-Messungen erhöhen. Unser neuartiger Preamplifier ermöglicht zuverlässige Messungen selbst an Lamellen mit geringem Parallelwiderstand, wodurch zeitaufwändige iterative Vorbereitungsschritte reduziert und der Gesamtaufwand minimiert werden.

Unser Kontakt: info@pointelectronic.de

René Hammer
Product Manager / Scientist