Mit dem neuen Arbeitskreis "Workshop SEM" etabliert die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie ein zukunftsweisendes Kompetenzzentrum für Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Am 6. Oktober dieses Jahres versammelten sich etwa 30 Vertreter aus Wissenschaft und Wirtschaft, um den Arbeitskreis aus der Taufe zu heben. Unter den Gründungsmitgliedern befand sich auch point electronic, vertreten durch Geschäftsführer Christoph Sichting.

Die Initiative zur Gründung ging von Dr. Ute Golla-Schindler (Hochschule Aalen), Prof. Dr. Marc Willinger (TU München) und Dr. Dirk Berger (Institut ZELMI an der TU Berlin) aus. Als Mitglied des Arbeitskreises freut sich point electronic darauf, künftig seine Expertise und Unterstützung beizutragen.

Der Arbeitskreis "Workshop SEM" fungiert als Expertenforum und Anlaufstelle für Fragen der Rasterelektronenmikroskopie in den Material- und Lebenswissenschaften. Zu den Hauptzielen gehören die Förderung des fachlichen Austauschs zu SEM-Kontrasten und -Methoden, die Bereitstellung von SEM-Sessions auf Tagungen, die Förderung der Ausbildung von Fachkräftenachwuchs sowie von wissenschaftlichen Kooperationen.

Besonderes Augenmerk legt der Arbeitskreis auf die Förderung neuer SEM-Methoden, Probenpräparation, Element- und Strukturkontraste, Abbildungskontraste, praxisnahe Tipps zu Bedienung, Methodik, Automatisierung und Künstlicher Intelligenz sowie auf den Bereich Wartung, Reparatur und Justierung.

Um sein Wissen zu teilen, plant der Arbeitskreis in nächster Zeit Hands-On Sessions, Demos und verschiedene Fachbeiträge in unterschiedlichen Präsenzformaten.

Website der DGE: www.dge-homepage.de