Die elektrische Analyse (EA) im TEM-System ermöglicht die Korrelation der elektrischen Aktivität vor Ort mit hochauflösenden Daten. Und wir sind stolz darauf, dass wir es diese Woche für die Chungnam National University Korea im TEM des National NanoFab Center (NNFC) in Betrieb nehmen konnten. Es ist das erste Mal, dass wir unser System zusammen mit einem DENSSolutions-Halter installiert haben.

Das elektrische Analysesystem ermöglicht es, die elektrische Aktivität in situ mit hochauflösenden Daten zu korrelieren. Und wir sind stolz darauf, es nun auch für DENSSolutions-Inhaber anbieten zu können.

Wir danken unserem Partner DENSsolutions sehr für die gute Zusammenarbeit und die Unterstützung bei der reibungslosen Integration des Systems. Dies ist auch ein erfolgreicher Meilenstein in unserer gemeinsamen Partnerschaft in der In-Situ-Mikroskopie-Allianz.

Unser System für die elektrische Analyse im TEM umfasst einen Verstärker zur rauscharmen Stromverstärkung für Biasing-Halter und unseren REVOLON Scan-Controller. Es ist vollständig integriert und softwaregesteuert und unterstützt elektrische Analyseverfahren wie EBIC, RCI und EBIRCH.

Wir danken dem NNFC-Team und wünschen ihm weiterhin viel Erfolg bei seinen wissenschaftlichen Forschungen und Entdeckungen!