Aus diesem Grund hat sich das Team um Vita Mergner und David Cooper für die neueste Version unseres „Electrical Analysis for TEM“-Systems von point electronic GmbH entschieden. Es wurde vor Ort in Grenoble von unserem Kollegen René Hammer installiert.

Das neue „EA for TEM“-System ermöglicht nun EBIC- und RCI-Messungen im STEM mit einem deutlich verbesserten Signal-Rausch-Verhältnis.

In der Praxis bedeutet dies, dass

• schwächere Signale sichtbar werden,
• feinere elektrische Strukturen aufgelöst werden können und
• Effekte, die zuvor im Rauschen untergingen, nun messbar sind.

Das CEA-Leti-Institut beschleunigt den Transfer von Forschungsergebnissen in praktische Anwendungen und trägt so dazu bei, die Lücke zwischen Grundlagenforschung und praktischen Halbleitertechnologien zu schließen.

Hier arbeitet das Team um David und Vita an fortschrittlichen optoelektronischen III-V-Halbleitersystemen auf Basis von GaN, GaAs, InGaAs, InP und GaP.

Mit dem EA-for-STEM-System können sie nun tiefere Einblicke in die elektrischen Eigenschaften dieser Materialien gewinnen. Solche Informationen sind mit anderen Techniken wie der Elektronenholografie oder 4D-STEM nur schwer oder in manchen Fällen gar nicht zu erfassen.

Wir danken Vita Mergner, David Cooper und dem gesamten CEA-Leti-Team und wünschen Ihnen weiterhin viel Erfolg mit dem Electrical Analysis System.