point electronic GmbH beteiligt sich am 4. Treffen des DGE-Arbeitskreises Workshop Rasterelektronenmikroskopie (AK WS-SEM), mit Impulsen zu Advanced Scanning.
Der Arbeitskreis beschäftigt sich mit der Weiterentwicklung von REM-Techniken und -Methoden und wird unterstützt von der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE)