EMSI 2026
02.10.2026 - 04.10.2026
- IIT Kharagpur Research Park
- Rajarhat, Kolkata, Indien
- emsi2026.iitkgp.ac.in
Über die EMSI:
Das 52. Internationale Symposium für Test- und Fehleranalyse („International Symposium for Testing and Failure Analysis“, ISTFA) ist eine wichtige internationale Veranstaltung für die Mikroelektronik-Fehleranalyse.
- REVOLON TEM Scan Controller: ein neuer Standard für STEM
- OEM/ODM Electronics und Software: schnelles und kosteneffektives Elektronikdesign für Elektronensäulen genau nach Kundenspezifikationen
- BSE Detection: Materialdichtekartierung mit hoher räumlicher Auflösung, Charakterisierung heißer Proben, auch bei Temperaturen über 1.000ºC
- BSE Topografie: quantitatitve Höhenmessungen
- 3D Calibration: Kalibrierung für REM und AFM
- Elektrische Analyse
- Elektrische Analyse im TEM
- Elektrische Analyse im REM
- REM Modernisierungen: ein zweites Leben für Ihr REM – mit komplett neuen Elektroniken und neuer Software